測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因汙染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或係統的壽命試驗時間.

1.HAST老化試驗箱設備參數範圍？

答：蒸汽溫度範圍： 100~135C（143C為特殊選用型），蒸汽濕度範圍： 75%~100%RH， 氣壓範圍： 0.1~0.296Mpa.

2.什麼是hast老化試驗箱測試？

答：高壓蒸煮測試即為高溫，高濕，高氣壓測試

3.為什麼要做HAST老化試驗箱測試？

答：做高壓蒸煮的目的是驗證產品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速產品的失效過程

4.HAST老化試驗箱測試標準有哪些？

答：實驗室常用高壓蒸煮測試標準為：

JESD22-A102-C-200加速抗濕性能測試（未飽和氣壓）

JESD22-A110-B-1999高加速溫度濕度應力測試

5.HAST老化試驗箱主要測試樣品類型？

答：高壓蒸煮主要針對非密封性的固體樣品進行測試。

HAST老化試驗箱測試產品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，主要用於對電工、電子產品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試，測試後，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、檢定及出廠檢驗使用。

設備用途：

HAST未飽和高壓加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置於嚴苛之溫度、溫度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲人封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因汙染造成短路等。是加速水分通過外部保護材料或密封劑或外部材料和導體之間的滲透，通過在設定的溫度和濕度條件下連續施加壓力來完成的。

機械結構：

1.圓型內箱,不鏽鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.

2.圓幅內膽,不鏽鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接衝擊.

3.水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。

4.專用型 packing ,材質：耐高溫夕膠發泡成型，內箱壓力愈大時,packing 會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長 packing 壽命.

5.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障示機台具有定時幹燥功能 , 使試驗產品處於幹燥狀態.

6.水箱采用 16L 大容量水箱，置於箱體底部，采用蕞新主動式自動補水係統，有效防止加熱管幹燒；試驗不終 斷;試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

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